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Testautomatisierung gute qualität fällt nicht vom himmel

dc.contributor.authorAzimi, Maximilian
dc.contributor.authorFelske, Jens-Rainer
dc.contributor.authorLauber, Sebastian
dc.contributor.authorMattfeld, Jan-Henrich
dc.contributor.authorSchneider, Pascal
dc.contributor.authorStapelfeldt, Krischan
dc.contributor.authorSuhl, Timm
dc.contributor.authorTechau, Nils
dc.contributor.authorVosseberg, Karin
dc.contributor.editorAßmann, Uwe
dc.contributor.editorDemuth, Birgit
dc.contributor.editorSpitta, Thorsten
dc.contributor.editorPüschel, Georg
dc.contributor.editorKaiser, Ronny
dc.date.accessioned2017-06-30T20:56:03Z
dc.date.available2017-06-30T20:56:03Z
dc.date.issued2015
dc.identifier.isbn978-3-88579-633-6
dc.identifier.pissn1617-5468
dc.language.isode
dc.publisherGesellschaft für Informatik e.V.
dc.relation.ispartofSoftware-engineering and management 2015
dc.relation.ispartofseriesLecture Notes in Informatics (LNI) - Proceedings, Volume P-239
dc.titleTestautomatisierung gute qualität fällt nicht vom himmelde
dc.typeText/Conference Paper
gi.citation.endPage385
gi.citation.publisherPlaceBonn
gi.citation.startPage378
gi.conference.date17.-20. März 2015
gi.conference.locationDresden

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