Qualitätsanalyse mit IoT-Testware
| dc.contributor.author | Hackel, Sascha | |
| dc.contributor.author | Knobloch, Dorian | |
| dc.contributor.author | Rennoch, Axel | |
| dc.contributor.editor | Kelter, Udo | |
| dc.date.accessioned | 2023-02-27T13:46:44Z | |
| dc.date.available | 2023-02-27T13:46:44Z | |
| dc.date.issued | 2019 | |
| dc.description.abstract | Das Internet der Dinge ist heute aus unserem Alltag nicht mehr wegzudenken. Elektronische Geräte – von komplexen Produktionsanlagen oder vernetzten Maschinen bis hin zu unserem Smartphone, Fitnessarmbändern oder Autos – sind immer häufiger miteinander vernetzt. Dabei erzeugen sie Daten und tauschen diese über das Internet miteinander aus. Schätzungen von Cisco Systems zufolge wird es bis 2020 rund 50 Milliarden weltweit vernetzte Geräte geben. In diesem Beitrag wird die bei der Eclipse Foundation veröffentlichte IoT-Testware vorgestellt, weiterführende Ansätze zur Testautomatisierung für die Qualitätsanalyse, sowie die begleitenden Aktivitäten durch die neue Arbeitsgruppe TST innerhalb des technischen Komitees MTS bei ETSI. | de |
| dc.identifier.pissn | 0720-8928 | |
| dc.identifier.uri | https://dl.gi.de/handle/20.500.12116/40469 | |
| dc.language.iso | de | |
| dc.publisher | Gesellschaft für Informatik e.V. | |
| dc.relation.ispartof | Softwaretechnik-Trends Band 39, Heft 3 | |
| dc.relation.ispartofseries | Softwaretechnik-Trends | |
| dc.subject | Internet der Dinge | |
| dc.subject | IoT | |
| dc.subject | Testautomatisierung | |
| dc.title | Qualitätsanalyse mit IoT-Testware | de |
| dc.type | Text/Conference Paper | |
| gi.citation.endPage | 6 | |
| gi.citation.publisherPlace | Bonn | |
| gi.citation.startPage | 3 | |
| gi.conference.date | 14.-15. Juni 2018 | |
| gi.conference.location | München | |
| gi.conference.sessiontitle | 42. Treffen der GI-Fachgruppe Test, Analyse und Verifikation von Software (TAV 42) |
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