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Reduktion von Testsuiten für Software-Produktlinien

dc.contributor.authorCichos, Harald
dc.contributor.authorLochau, Malte
dc.contributor.authorOster, Sebastian
dc.contributor.authorSchürr, Andy
dc.contributor.editorJähnichen, Stefan
dc.contributor.editorKüpper, Axel
dc.contributor.editorAlbayrak, Sahin
dc.date.accessioned2018-11-19T13:24:12Z
dc.date.available2018-11-19T13:24:12Z
dc.date.issued2012
dc.description.abstractEine Software-Produktlinie (SPL) bezeichnet eine Menge ähnlicher Produktvarianten, die bei entsprechend großer Anzahl einen erheblichen Testaufwand verursachen können. Viele modellbasierte SPL-Testansätze versuchen diesen Testaufwand zu verringern, indem Testfälle und Testmodelle aus vorangegangenen Testprozessen ähnlicher Produkte, wenn möglich, wiederverwendet werden. Eine weitere Möglichkeit den Testaufwand zu senken besteht darin, die Anzahl der auf den einzelnen Produkten auszuführenden Testfälle (Testsuite) mittels Testsuite-Reduktionstechniken zu reduzieren. Bisher existierende Verfahren wurden jedoch nicht für den Einsatz im SPL-Kontext entworfen und können daher nicht für jedes Produkt den Erhalt der erreichten Testabdeckung bzgl. eines Überdeckungskriteriums garantieren, wenn Testfälle produktübergreifend wiederverwendet werden. In dieser Arbeit wird diese aus der allgemeinen Testsuite-Reduktion bekannte Anforderung erstmals in erweiterter Form auf den SPL-Kontext übertragen. Darauf aufbauend werden zwei für SPLs ausgelegte Testsuite-Reduktionsansätze vorgestellt, die trotz Reduktion die erreichte Testabdeckung auf jedem Produkt beibehalten. Die Implementierung dieser Ansätze wird auf ein Anwendungsbeispiel angewendet und die Ergebnisse diskutiert.de
dc.identifier.isbn978-3-88579-292-5
dc.identifier.pissn1617-5468
dc.identifier.urihttps://dl.gi.de/handle/20.500.12116/18351
dc.language.isode
dc.publisherGesellschaft für Informatik e.V.
dc.relation.ispartofSoftware Engineering 2012
dc.relation.ispartofseriesLecture Notes in Informatics (LNI) - Proceedings, Volume P-198
dc.titleReduktion von Testsuiten für Software-Produktliniende
dc.typeText/Conference Paper
gi.citation.endPage154
gi.citation.publisherPlaceBonn
gi.citation.startPage143
gi.conference.date27. Februar - 2. März 2012
gi.conference.locationBerlin
gi.conference.sessiontitleRegular Research Papers

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