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Zeitschriftenartikel

Wie schlechte Tests doch helfen können

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Volltext URI

Dokumententyp

Text/Journal Article

Zusatzinformation

Datum

2011

Autor:innen

Zeitschriftentitel

ISSN der Zeitschrift

Bandtitel

Quelle

Wirtschaftsinformatik & Management: Vol. 3, No. 2

Verlag

Springer

Zusammenfassung

Beschreibung

Ludwig, Von Matthias (2011): Wie schlechte Tests doch helfen können. Wirtschaftsinformatik & Management: Vol. 3, No. 2. Springer. PISSN: 1867-5913. pp. 74-74

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Sammlungen

WuM 03(2) - April 2011