Test eingebetteter Prozessoren im Zielsystem mit hoher diagnostischer Auflösung
| dc.contributor.author | Gleichner, Christian | |
| dc.contributor.author | Vierhaus, Heinrich T. | |
| dc.contributor.editor | Cunningham, Douglas W. | |
| dc.contributor.editor | Hofstedt, Petra | |
| dc.contributor.editor | Meer, Klaus | |
| dc.contributor.editor | Schmitt, Ingo | |
| dc.date.accessioned | 2017-06-30T08:14:53Z | |
| dc.date.available | 2017-06-30T08:14:53Z | |
| dc.date.issued | 2015 | |
| dc.description.abstract | Strukturorientierte Tests können eingesetzt werden, um die Funktionstüchtigkeit hochintegrierter Schaltungen zu überprüfen. Der Produktionstest wird von einer speziellen, schaltungsinternen Testlogik unterstützt, die über dedizierte I/O-Kanäle angesteuert wird. Im Zielsystem ist diese Schnittstelle aber nicht verfügbar. Um einen erweiterten Systemtest mit diagnostischen Fähigkeiten im Feld zu realisieren, bietet es sich an, den Testzugang über vorhandene Standardschnittstellen zu ermöglichen. Die in dieser Arbeit vorgestellte Testschnittstelle erlaubt es, Testroutinen für den im Zielsystem eingebetteten Prozessor durchzuführen, welche über den stets unvollständigen funktionalen Test hinaus auch strukturorientierte Tests mit hoher Fehlerüberdeckung umfassen. | de |
| dc.identifier.isbn | 978-3-88579-640-4 | |
| dc.identifier.pissn | 1617-5468 | |
| dc.language.iso | de | |
| dc.publisher | Gesellschaft für Informatik e.V. | |
| dc.relation.ispartof | INFORMATIK 2015 | |
| dc.relation.ispartofseries | Lecture Notes in Informatics (LNI) - Proceedings, Volume P-246 | |
| dc.title | Test eingebetteter Prozessoren im Zielsystem mit hoher diagnostischer Auflösung | de |
| dc.type | Text/Conference Paper | |
| gi.citation.endPage | 1413 | |
| gi.citation.publisherPlace | Bonn | |
| gi.citation.startPage | 1399 | |
| gi.conference.date | 28. September - 2. Oktober 2015 | |
| gi.conference.location | Cottbus |
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