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TAV 23 München “Special Track”: Neuere Entwicklungen im Testbereich der SIEMENS AG - CT SE 1

dc.contributor.authorUlrich, Andreas
dc.date.accessioned2023-05-23T08:29:17Z
dc.date.available2023-05-23T08:29:17Z
dc.date.issued2006
dc.identifier.pissn0720-8928
dc.identifier.urihttps://dl.gi.de/handle/20.500.12116/41628
dc.language.isode
dc.publisherGeselllschaft für Informatik e.V.
dc.relation.ispartofSoftwaretechnik-Trends Band 26, Heft 1
dc.titleTAV 23 München “Special Track”: Neuere Entwicklungen im Testbereich der SIEMENS AG - CT SE 1de
dc.typeText/Journal Article
gi.citation.publisherPlaceBonn
gi.conference.sessiontitleBerichte aus den Fachgruppen und Arbeitskreisen

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