Prüfkonzepte für VLSI-Bausteine - Das aktuelle Schlagwort
| dc.contributor.author | Gerner, Manfred | |
| dc.date.accessioned | 2018-02-02T02:14:03Z | |
| dc.date.available | 2018-02-02T02:14:03Z | |
| dc.date.issued | 1985 | |
| dc.identifier.uri | https://dl.gi.de/handle/20.500.12116/15600 | |
| dc.language.iso | de | |
| dc.publisher | Springer-Verlag | |
| dc.relation.ispartof | Informatik Spektrum: Vol. 8, No. 6 | |
| dc.title | Prüfkonzepte für VLSI-Bausteine - Das aktuelle Schlagwort | de |
| dc.type | Text/Journal Article | |
| gi.citation.endPage | 340 | |
| gi.citation.publisherPlace | Berlin Heidelberg | |
| gi.citation.startPage | 339 |