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Einsatz von Deep Learning für den Test Eingebetteter Systeme

dc.contributor.authorBielefeldt,Jens
dc.contributor.authorBasener, Kai-Uwe
dc.contributor.authorKhan, Siddique Reza
dc.contributor.authorMassah, Mozhdeh
dc.contributor.authorWiesbrock, Hans-Werner
dc.contributor.authorScharoba, Stefan
dc.contributor.authorHübner, Michael
dc.date.accessioned2021-12-14T10:57:13Z
dc.date.available2021-12-14T10:57:13Z
dc.date.issued2021
dc.description.abstractWährend der Durchführung von Funktions-, Stress- oder Laufzeittests eingebetteter Systeme fallen große Mengen von Testdaten an. Die Testläufe sind in der Regel, wenn auch nicht umfassend, von Testern und/oder Kunden ausgewertet worden, und können somit als Referenz für weitere Testdaten dienen. In dem Forschungsprojekt DeepTest wird versucht, mit Hilfe von Techniken des Deep Learning diese riesigen Datenmengen für das Training neuronaler Netze zu nutzen, um weitere, neue Tests zu generieren und Testmuster in ihnen zu identifizieren. In dem vorliegenden Artikel wird über den derzeitigen Stand der Forschung berichtet.de
dc.identifier.doi10.18420/informatik2021-166
dc.identifier.isbn978-3-88579-708-1
dc.identifier.pissn1617-5468
dc.identifier.urihttps://dl.gi.de/handle/20.500.12116/37676
dc.language.isode
dc.publisherGesellschaft für Informatik, Bonn
dc.relation.ispartofINFORMATIK 2021
dc.relation.ispartofseriesLecture Notes in Informatics (LNI) - Proceedings, Volume P-314
dc.subjectTest Eingebetteter Systeme
dc.subjectTestdaten Generierung
dc.subjectDeep Learning
dc.titleEinsatz von Deep Learning für den Test Eingebetteter Systemede
gi.citation.endPage1864
gi.citation.startPage1859
gi.conference.date27. September - 1. Oktober 2021
gi.conference.locationBerlin
gi.conference.sessiontitleWorkshop; Herausforderungen beim Testen moderner Softwaresysteme (TAV-2021)

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