Testautomatisierung gute qualität fällt nicht vom himmel
dc.contributor.author | Azimi, Maximilian | |
dc.contributor.author | Felske, Jens-Rainer | |
dc.contributor.author | Lauber, Sebastian | |
dc.contributor.author | Mattfeld, Jan-Henrich | |
dc.contributor.author | Schneider, Pascal | |
dc.contributor.author | Stapelfeldt, Krischan | |
dc.contributor.author | Suhl, Timm | |
dc.contributor.author | Techau, Nils | |
dc.contributor.author | Vosseberg, Karin | |
dc.contributor.editor | Aßmann, Uwe | |
dc.contributor.editor | Demuth, Birgit | |
dc.contributor.editor | Spitta, Thorsten | |
dc.contributor.editor | Püschel, Georg | |
dc.contributor.editor | Kaiser, Ronny | |
dc.date.accessioned | 2017-06-30T20:56:03Z | |
dc.date.available | 2017-06-30T20:56:03Z | |
dc.date.issued | 2015 | |
dc.identifier.isbn | 978-3-88579-633-6 | |
dc.identifier.pissn | 1617-5468 | |
dc.language.iso | de | |
dc.publisher | Gesellschaft für Informatik e.V. | |
dc.relation.ispartof | Software-engineering and management 2015 | |
dc.relation.ispartofseries | Lecture Notes in Informatics (LNI) - Proceedings, Volume P-239 | |
dc.title | Testautomatisierung gute qualität fällt nicht vom himmel | de |
dc.type | Text/Conference Paper | |
gi.citation.endPage | 385 | |
gi.citation.publisherPlace | Bonn | |
gi.citation.startPage | 378 | |
gi.conference.date | 17.-20. März 2015 | |
gi.conference.location | Dresden |
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