Durchgängiger Einsatz Hardware-unabhängiger Testfälle im MiL-, SiL- und HiL-Test

dc.contributor.author	Müller, Michael
dc.date.accessioned	2023-05-03T14:03:43Z
dc.date.available	2023-05-03T14:03:43Z
dc.date.issued	2008
dc.description.abstract	Der Vortrag gibt zunächst einen Überblick über die Testverfahren, die zurzeit in der Automobilindustrie eingesetzt werden. Hierbei wird kurz auf die Begriffe MiL (Model in the Loop), SiL (Software in the Loop) und HiL (Hardware in the Loop) eingegangen. Es werden die Probleme beschrieben, die dieser Ansatz mit sich bringt. Anschließend wird ein Lösungsansatz vorgestellt, der es ermöglicht, mit Hilfe der Signalabstraktion Tests aus früheren Testphasen wiederzuverwenden sowie Testfälle zu erstellen, die unabhängig von der verwendeten Hardware sind. Zuletzt wird noch auf die Einbindung dieses Lösungsansatzes in die Modellbasierte Entwicklung eingegangen.	de
dc.identifier.pissn	0720-8928
dc.identifier.uri	https://dl.gi.de/handle/20.500.12116/41371
dc.language.iso	de
dc.publisher	Geselllschaft für Informatik e.V.
dc.relation.ispartof	Softwaretechnik-Trends Band 28, Heft 1
dc.title	Durchgängiger Einsatz Hardware-unabhängiger Testfälle im MiL-, SiL- und HiL-Test	de
dc.type	Text/Journal Article
gi.citation.publisherPlace	Bonn
gi.conference.sessiontitle	Berichte aus den Fachgruppen und Arbeitskreisen

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