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Qualitätsanalyse mit IoT-Testware

dc.contributor.authorHackel, Sascha
dc.contributor.authorKnobloch, Dorian
dc.contributor.authorRennoch, Axel
dc.contributor.editorKelter, Udo
dc.date.accessioned2023-02-27T13:46:44Z
dc.date.available2023-02-27T13:46:44Z
dc.date.issued2019
dc.description.abstractDas Internet der Dinge ist heute aus unserem Alltag nicht mehr wegzudenken. Elektronische Geräte – von komplexen Produktionsanlagen oder vernetzten Maschinen bis hin zu unserem Smartphone, Fitnessarmbändern oder Autos – sind immer häufiger miteinander vernetzt. Dabei erzeugen sie Daten und tauschen diese über das Internet miteinander aus. Schätzungen von Cisco Systems zufolge wird es bis 2020 rund 50 Milliarden weltweit vernetzte Geräte geben. In diesem Beitrag wird die bei der Eclipse Foundation veröffentlichte IoT-Testware vorgestellt, weiterführende Ansätze zur Testautomatisierung für die Qualitätsanalyse, sowie die begleitenden Aktivitäten durch die neue Arbeitsgruppe TST innerhalb des technischen Komitees MTS bei ETSI.de
dc.identifier.pissn0720-8928
dc.identifier.urihttps://dl.gi.de/handle/20.500.12116/40469
dc.language.isode
dc.publisherGesellschaft für Informatik e.V.
dc.relation.ispartofSoftwaretechnik-Trends Band 39, Heft 3
dc.relation.ispartofseriesSoftwaretechnik-Trends
dc.subjectInternet der Dinge
dc.subjectIoT
dc.subjectTestautomatisierung
dc.titleQualitätsanalyse mit IoT-Testwarede
dc.typeText/Conference Paper
gi.citation.endPage6
gi.citation.publisherPlaceBonn
gi.citation.startPage3
gi.conference.date14.-15. Juni 2018
gi.conference.locationMünchen
gi.conference.sessiontitle42. Treffen der GI-Fachgruppe Test, Analyse und Verifikation von Software (TAV 42)

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Name:
42_GI-TAV_paper_1.pdf
Größe:
649.88 KB
Format:
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