Zhu, HongHegering, Heinz-GerdLehmann, AxelOhlbach, Hans JürgenScheideler, Christian2019-04-032019-04-032008978-3-88579-227-7https://dl.gi.de/handle/20.500.12116/21352enData Mutation Testing Applied to a Modelling ToolText/Conference Paper1617-5468