Möglichkeiten der Modellierung von Fehlern in MLC-Flash-Speichern durch Fehlergraphen

Nieß, GuntherKern, ThomasGössel, MichaelCunningham, Douglas W.Hofstedt, PetraMeer, KlausSchmitt, Ingo2017-06-302017-06-302015978-3-88579-640-4deMöglichkeiten der Modellierung von Fehlern in MLC-Flash-Speichern durch FehlergraphenText/Conference Paper1617-5468