Cichos, HaraldLochau, MalteOster, SebastianSchürr, AndyJähnichen, StefanKüpper, AxelAlbayrak, Sahin2018-11-192018-11-192012978-3-88579-292-5https://dl.gi.de/handle/20.500.12116/18351Eine Software-Produktlinie (SPL) bezeichnet eine Menge ähnlicher Produktvarianten, die bei entsprechend großer Anzahl einen erheblichen Testaufwand verursachen können. Viele modellbasierte SPL-Testansätze versuchen diesen Testaufwand zu verringern, indem Testfälle und Testmodelle aus vorangegangenen Testprozessen ähnlicher Produkte, wenn möglich, wiederverwendet werden. Eine weitere Möglichkeit den Testaufwand zu senken besteht darin, die Anzahl der auf den einzelnen Produkten auszuführenden Testfälle (Testsuite) mittels Testsuite-Reduktionstechniken zu reduzieren. Bisher existierende Verfahren wurden jedoch nicht für den Einsatz im SPL-Kontext entworfen und können daher nicht für jedes Produkt den Erhalt der erreichten Testabdeckung bzgl. eines Überdeckungskriteriums garantieren, wenn Testfälle produktübergreifend wiederverwendet werden. In dieser Arbeit wird diese aus der allgemeinen Testsuite-Reduktion bekannte Anforderung erstmals in erweiterter Form auf den SPL-Kontext übertragen. Darauf aufbauend werden zwei für SPLs ausgelegte Testsuite-Reduktionsansätze vorgestellt, die trotz Reduktion die erreichte Testabdeckung auf jedem Produkt beibehalten. Die Implementierung dieser Ansätze wird auf ein Anwendungsbeispiel angewendet und die Ergebnisse diskutiert.deText/Conference Paper1617-5468