Eggersglüß, StephanHölldobler, Steffen2020-08-212020-08-212011978-3-88579-415-8https://dl.gi.de/handle/20.500.12116/33754Der Produktionstest ist ein zentraler Punkt für die Sicherstellung der Korrektheit von gefertigten Schaltungen. Durch die Komplexität und die fortschreitende Miniaturisierung heutiger Computerchips stoßen klassische Testgenerierungsverfahren an ihre Grenzen und können nicht mehr die notwendige Testqualität sicherstellen. In dieser Arbeit werden neue Verfahren zur Testgenerierung vorgestellt. Diese Verfahren basieren auf Boolescher Erfüllbarkeit (SAT) und ermöglichen so den Einsatz von hoch optimierten Suchalgorithmen. Neben innovativen Lösungstechniken werden auch neue Methoden zur SAT-Instanzgenerierung präsentiert, welche erstmalig auch die Generierung von hochwertigen Tests zulassen. Experimentelle Untersuchungen auf großen industriellen Schaltungen zeigen eine signifikante Erhöhung der Testqualität. Dies wiederum erzeugt eine erhöhte Sicherheit von Computerchips.de1617-5468