GI LogoGI Logo
  • Anmelden
Digitale Bibliothek
    • Gesamter Bestand

      • Bereiche & Sammlungen
      • Titel
      • Autor
      • Erscheinungsdatum
      • Schlagwort
    • Diese Sammlung

      • Titel
      • Autor
      • Erscheinungsdatum
      • Schlagwort
Digital Bibliothek der Gesellschaft für Informatik e.V.
GI-DL
    • English
    • Deutsch
  • Deutsch 
    • English
    • Deutsch
Dokumentanzeige 
  •   Startseite
  • Lecture Notes in Informatics
  • Proceedings
  • P246 - Informatik 2015
  • Dokumentanzeige
JavaScript is disabled for your browser. Some features of this site may not work without it.
  •   Startseite
  • Lecture Notes in Informatics
  • Proceedings
  • P246 - Informatik 2015
  • Dokumentanzeige

Test eingebetteter Prozessoren im Zielsystem mit hoher diagnostischer Auflösung

Autor(en):
Gleichner, Christian [DBLP] ;
Vierhaus, Heinrich T. [DBLP]
Zusammenfassung
Strukturorientierte Tests können eingesetzt werden, um die Funktionstüchtigkeit hochintegrierter Schaltungen zu überprüfen. Der Produktionstest wird von einer speziellen, schaltungsinternen Testlogik unterstützt, die über dedizierte I/O-Kanäle angesteuert wird. Im Zielsystem ist diese Schnittstelle aber nicht verfügbar. Um einen erweiterten Systemtest mit diagnostischen Fähigkeiten im Feld zu realisieren, bietet es sich an, den Testzugang über vorhandene Standardschnittstellen zu ermöglichen. Die in dieser Arbeit vorgestellte Testschnittstelle erlaubt es, Testroutinen für den im Zielsystem eingebetteten Prozessor durchzuführen, welche über den stets unvollständigen funktionalen Test hinaus auch strukturorientierte Tests mit hoher Fehlerüberdeckung umfassen.
  • Vollständige Referenz
  • BibTeX
Gleichner, C. & Vierhaus, H. T., (2015). Test eingebetteter Prozessoren im Zielsystem mit hoher diagnostischer Auflösung. In: Cunningham, D. W., Hofstedt, P., Meer, K. & Schmitt, I. (Hrsg.), INFORMATIK 2015. Bonn: Gesellschaft für Informatik e.V.. (S. 1399-1413).
@inproceedings{mci/Gleichner2015,
author = {Gleichner, Christian AND Vierhaus, Heinrich T.},
title = {Test eingebetteter Prozessoren im Zielsystem mit hoher diagnostischer Auflösung},
booktitle = {INFORMATIK 2015},
year = {2015},
editor = {Cunningham, Douglas W. AND Hofstedt, Petra AND Meer, Klaus AND Schmitt, Ingo} ,
pages = { 1399-1413 },
publisher = {Gesellschaft für Informatik e.V.},
address = {Bonn}
}
DateienGrößeFormatAnzeige
1399.pdf252.9Kb PDF Öffnen

Haben Sie fehlerhafte Angaben entdeckt? Sagen Sie uns Bescheid: Feedback abschicken

Mehr Information

ISBN: 978-3-88579-640-4
ISSN: 1617-5468
Datum: 2015
Sprache: de (de)
Typ: Text/Conference Paper
Sammlungen
  • P246 - Informatik 2015 [175]

Zur Langanzeige


Über uns | FAQ | Hilfe | Impressum

Gesellschaft für Informatik e.V. (GI), Kontakt: Geschäftsstelle der GI
Diese Digital Library basiert auf DSpace.

 

 


Über uns | FAQ | Hilfe | Impressum

Gesellschaft für Informatik e.V. (GI), Kontakt: Geschäftsstelle der GI
Diese Digital Library basiert auf DSpace.