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Zeitschriftenartikel

Wiederverwendbarkeit und Management von modellbasierten X-in-the-Loop Tests mit TTCN-3 Embedded

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Dokumententyp

Text/Journal Article

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Datum

2010

Zeitschriftentitel

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Bandtitel

Verlag

Geselllschaft für Informatik e.V.

Zusammenfassung

Beschreibung

Großmann, J.; Wiesbrock, H.-W. (2010): Wiederverwendbarkeit und Management von modellbasierten X-in-the-Loop Tests mit TTCN-3 Embedded. Softwaretechnik-Trends Band 30, Heft 2. Bonn: Geselllschaft für Informatik e.V.. PISSN: 0720-8928. Berichte aus den Fachgruppen und Arbeitskreisen - FG TAV: Bericht und Beiträge vom Treffen der Fachgruppe am 12. und 13. November 2009 in Stralsund

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