Wiederverwendbarkeit und Management von modellbasierten X-in-the-Loop Tests mit TTCN-3 Embedded

Großmann, J.; Wiesbrock, H.-W. (2010): Wiederverwendbarkeit und Management von modellbasierten X-in-the-Loop Tests mit TTCN-3 Embedded. Softwaretechnik-Trends Band 30, Heft 2. Bonn: Geselllschaft für Informatik e.V.. PISSN: 0720-8928. Berichte aus den Fachgruppen und Arbeitskreisen - FG TAV: Bericht und Beiträge vom Treffen der Fachgruppe am 12. und 13. November 2009 in Stralsund