Wiederverwendbarkeit und Management von modellbasierten X-in-the-Loop Tests mit TTCN-3 Embedded
| dc.contributor.author | Großmann, J. | |
| dc.contributor.author | Wiesbrock, H.-W. | |
| dc.date.accessioned | 2023-04-06T10:34:23Z | |
| dc.date.available | 2023-04-06T10:34:23Z | |
| dc.date.issued | 2010 | |
| dc.identifier.pissn | 0720-8928 | |
| dc.identifier.uri | https://dl.gi.de/handle/20.500.12116/41144 | |
| dc.language.iso | de | |
| dc.publisher | Geselllschaft für Informatik e.V. | |
| dc.relation.ispartof | Softwaretechnik-Trends Band 30, Heft 2 | |
| dc.title | Wiederverwendbarkeit und Management von modellbasierten X-in-the-Loop Tests mit TTCN-3 Embedded | de |
| dc.type | Text/Journal Article | |
| gi.citation.publisherPlace | Bonn | |
| gi.conference.sessiontitle | Berichte aus den Fachgruppen und Arbeitskreisen - FG TAV: Bericht und Beiträge vom Treffen der Fachgruppe am 12. und 13. November 2009 in Stralsund |
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