Wiederverwendbarkeit und Management von modellbasierten X-in-the-Loop Tests mit TTCN-3 Embedded

dc.contributor.author	Großmann, J.
dc.contributor.author	Wiesbrock, H.-W.
dc.date.accessioned	2023-04-06T10:34:23Z
dc.date.available	2023-04-06T10:34:23Z
dc.date.issued	2010
dc.identifier.pissn	0720-8928
dc.identifier.uri	https://dl.gi.de/handle/20.500.12116/41144
dc.language.iso	de
dc.publisher	Geselllschaft für Informatik e.V.
dc.relation.ispartof	Softwaretechnik-Trends Band 30, Heft 2
dc.title	Wiederverwendbarkeit und Management von modellbasierten X-in-the-Loop Tests mit TTCN-3 Embedded	de
dc.type	Text/Journal Article
gi.citation.publisherPlace	Bonn
gi.conference.sessiontitle	Berichte aus den Fachgruppen und Arbeitskreisen - FG TAV: Bericht und Beiträge vom Treffen der Fachgruppe am 12. und 13. November 2009 in Stralsund

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